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PDA光電直讀光譜儀在鑄造爐前分析時控樣的制備
更新時間：2016-07-19 點擊次數(shù)：1692次
六十年代光電直讀光譜儀，隨著計算機(jī)技術(shù)的發(fā)展開始迅速發(fā)展，1964年ARL公司展示一套數(shù)字計算和控制讀出系統(tǒng)。由于計算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，電子技術(shù)的發(fā)展，電子計算機(jī)的小型化及微處理機(jī)的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因、于上世紀(jì)的七十年代光譜儀器幾乎100%地采用計算機(jī)控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實現(xiàn)自動化控制。隨著20世紀(jì)80年代計算機(jī)技術(shù)和軟件技術(shù)的發(fā)展，直讀光譜儀發(fā)展迅速。下面就來介紹下光電直讀光譜儀的一種：PDA光電直讀光譜儀。
PDA光電直讀光譜儀的優(yōu)點是:分析速度快;準(zhǔn)確度高，相對誤差約為1%;適用于較寬的波長范圍;光電倍增管對信號放大能力強(qiáng)，對強(qiáng)弱不同譜線可用不同的放大倍率，相差可達(dá)10000倍，因此它可用同一分析條件對樣品中多種含量 范圍差別很大的元素同時進(jìn)行分析;線性范圍寬，可做高含量分析。缺點為:出射狹縫固定，能分析的元素也固定，也不能利用不同波長的譜線進(jìn)行分析;受環(huán)境影響較大，如溫度變化時譜線易漂移，現(xiàn)多采用實驗室恒溫或儀器的光學(xué)系統(tǒng)局部恒溫及其他措施。
PDA光電直讀光譜儀在鑄造爐前分析時控樣的制備：
PDA光電直讀光譜儀用鑄鐵標(biāo)準(zhǔn)樣品由于白口化制造的困難，供應(yīng)品種非常有限且價格高，為適應(yīng)生產(chǎn)要求，可采用自制的控制標(biāo)樣的辦法，根據(jù)鐵液成分控制要求，以工頻爐熔煉鐵液中分別加人一定量稀土元素鎂、銅、錫，同時澆鑄制出幾份白口試樣和灰口試樣，對白口試樣做光譜均勻性檢查，合格后對同一份灰口試樣用化學(xué)方法(選用兩個實驗室測定結(jié)果)分析標(biāo)定，作為白口試樣的參照，彌補了標(biāo)準(zhǔn)樣品含量不足的缺陷。
爐前分析儀器試驗發(fā)現(xiàn)，由于試樣的組織結(jié)構(gòu)隨冷卻條件的不同而發(fā)生變化，在進(jìn)行光譜均勻性檢查中，樣品磨去4^-5mm后發(fā)現(xiàn)碳的發(fā)射強(qiáng)度隨著樣品深度增加有漸增的趨勢，這同樣品的白口化程度減弱相關(guān)，但其它合金元素的發(fā)射強(qiáng)度基本上均勻一致，實際工作中可采用在控樣磨耗一定厚度后替補更換控樣的辦法來解決控制標(biāo)樣的問題。
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